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인터엑스, AI 분야 최상위 학술지 ‘IEEE TII’ 등재… 불량 원인 ‘몇 초’를 찾아내다
인터엑스(INTERX)의 정찬영 선임연구원과 정하일 CTO가 참여한 논문이 산업 AI 분야 국제학술지 IEEE TII(Transactions on Industrial Informatics)에 등재됐다. 논문 제목은 'SegMIL: Long-Term Time Series Data Classification for Industrial AI Applications'로, 제조 공정에서 발생하는 장기 시계열(time series) 데이터를 분류해 불량 원인 구간을 식별하는 방법론을 다룬다. 초 단위로 쌓이는 수십 분 분량의 공정 기록 가운데 불량과 연관된 수 초 구간을 찾아내는 것이 이 연구의 핵심 문제 설정이다.
큐레이터기사가 논문 등재 사실과 연구 배경만 소개한 채 중단돼 있어, 실험 조건(시뮬레이션·실공정 여부), 비교 기준선, 정량적 성능 수치는 확인할 수 없다.